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  • 半導體器件高低溫測試設(shè)備
    半導體器件高低溫測試設(shè)備

    半導體器件高低溫測試設(shè)備(Chiller)主要用于半導體制程中對反應(yīng)腔室溫度的精準控制,主要由熱交換器、循環(huán)泵、壓縮機和控制系統(tǒng)構(gòu)成的一個自我平衡的循環(huán)裝置,屬于生產(chǎn)過程中的溫控設(shè)備。

    更新時間:2025-07-09型號:瀏覽量:1447
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